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水浸式超声C扫描系统

简要描述:水浸式超声C扫描系统是以水为耦合介质的无损检测技术,探头与工件浸入水中,声波经水传入工件内部。遇分层、空洞、裂纹等缺陷会产生反射回波,设备采集信号生成 C 扫描成像,精准定位缺陷尺寸与分布。无需探头接触工件,耦合稳定、分辨率高,多用于半导体、复合材料、精密金属件自动化探伤。

  • 产品型号:UPK-T10
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2026-06-24
  • 访  问  量:3060

详细介绍

产品简介

名称:中小型水浸式超声C扫描系统

型号:UPK-T10UPK-T24UPK-T36UPK-T48UPK-T60UPK-T72等。

产地:美国

应用:进行高分子材料、复合材料、构件内部分层、脱粘、夹杂等缺陷的无损检测和评价。


产品介绍

水浸超声C扫描系统,是新一代数字化、模块化、计算机插卡式的超声探伤及A/B/C扫描成像系统。具有高速、高精度、高清晰图像分辨率及大频宽等特性。

主要用于高分子材料、飞机用纤维复合材料、构件等的内部分层、脱粘、夹杂、空洞、孔洞等缺陷的无损检测和评价。可用于实验室研究,又可用于生产过程的质量检验及零部件探伤。

特点:

 l  集超声脉冲发射/接收与数据采集为一体的高精度、高性能超声脉冲发射采集卡(可达30MHz带宽,12位精度)。

 l  具有位置编码器的多轴(4-8轴)运动控制卡及功率放大器。

 l  由高性能数控电机驱动的多轴、多自由度、高速(可达500mm/s)、高精度(可达0.025mm位置精度)水槽或桁架式扫查系统。

l便携式或工业计算机系统及功能齐全的集多维轮廓与曲面跟踪扫查、探伤、分析、成像及评估于一体的窗式软件。


 

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