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安赛斯多用途高分辨工业CT系统

简要描述:安赛斯多用途高分辨工业CT系统FF35 CT 非常适合检查您的中小型产品:电子元件如SMD,导体封装,材料探针(如金属,塑料,CFRP),系统,MEMS,MOEMS,疗器械如空心,小金属零件即注塑模具,电子设备,小铸件。

  • 产品型号:FF35 CT
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-03-13
  • 访  问  量:3942

详细介绍

安赛斯FF35 CT多用途高分辨工业CT系统

安赛斯多用途高分辨工业CT系统


产品名称: 安赛斯FF35 CT多用途高分辨工业CT系统

产品型号:FF35 CT

应用行业: 汽车制造, 微电子, 航空航天, 科研开发, 铸造, 半导体, 增材制造

缺陷尺寸: <1µm 缺陷, <50µm 缺陷, <1mm 缺陷, >1mm 缺陷

样品尺寸: 小型, 中型, 大型

运行模式: 3D, 2D/3D, 计量

 

FF35 CT 亮点

  • 单或双射线管配置,可最大限度提高实验室微焦点CT应用多功能性

  • 只需轻触一个按钮,即可在数秒内在 225 kV Micro-focus管和190 kV Nano-focus管之间自如切换

  • 花岗岩底座操控和温控,确保精确的结果

  • 通过Geminy软件平台进行各种CT轨迹和视场 (FoV) 扩展,应用灵活

  • 可选计量版本,测量精度可达 MPESD = 5.9 µm + L/75 [L in mm]

  • 提供符合半导体市场标准的 FF35 CT SEMI 版本

  • 新产品!最大样品重量可达 50 千克 - 也可提供升级服务


  • 安赛斯多用途高分辨工业CT系统

 

 

可灵活检测中小型零件

Analysis FF35 CTFF35 CT MetrologyFF35 CT SEMI 涵盖了非凡的应用范围。丰富的功能涵盖了研发部门的改良材料测试、过程控制和小批量检验的优化,以及各种科学应用。双X射线管配置帮助高分辨率CT系统大幅扩展汽车、电子、航空和材料科学行业的质量保证和研究的应用空间。

 

 

安赛斯多用途高分辨工业CT系统

安赛斯多用途高分辨工业CT系统


成熟验证技术: 225 kV 折射式微焦点射线管

225 kV Analysis 折射式微焦点射线管具有 320 W 高功率和水冷靶材,可在不到一分钟的时间内完成快速 CT 扫描。2D 检测时,射束管空间分辨率为 4 μm。可在单个检测序列内自如切换折射式微焦点射线管和纳焦点透射管,大幅扩展应用范围。

安赛斯多用途高分辨工业CT系统

额外选配: 190 kV 纳焦点透射管

对于10 mm 或更小尺寸的零件,分辨率在亚微米范围内的 190 kV 纳焦点透射管是理想的解决方案,有助于高分辨率检查各种样本:虽然其水冷式放射管头可实现快速温度调节并具有焦点稳定性,但可通过四种模式基于功率进行相应的焦点尺寸适配调整。由于两根射线管均自备发生器和高压电缆,因此无需重新配置即可轻松切换。

 

各种轨迹最大限度提高灵活性

Geminy直观的用户界面上显示的图形符号和广泛的自动化功能,操作简便,不受操作员技能水平限制。同时,该软件还随附了丰富的功能,可灵活应对各类零件尺寸和检查任务,包括 HeliExtend(螺旋CT扫描和重建方法)等CT轨迹、水平和垂直视场扩展、虚拟旋转轴和标准QuickScan/QualityScan

安赛斯多用途高分辨工业CT系统

 

 FF35 CT可检测哪些物体?

  • 电子器件,包括SMD

  • 涉及新材料或新制造方法的产品,如增材制造零件、纤维增强塑料

  • 电池电芯和模组

  • 注塑成型塑料

  • 微系统 (MEMS, MOEMS)

  • 医疗用品,例如插管

  • 轻合金铸件

  • 地质、古生物和生物样本


  • 安赛斯多用途高分辨工业CT系统

 

FF35 CT 用于哪些应用?

  • 质量保证、材料分析和研究

  • 失效与结构分析

  • 装配检查

  • 小批量生产检验

  • 过程控制

  • 数字化

  • 无损剖切


  • 安赛斯多用途高分辨工业CT系统

 

 

FF35 CT SEMI: 专为半导体领域应用研发

Analysis FF35 CT SEMI X射线系统是一种创新的多功能高分辨率 CT 系统,用于研发和质量保证领域。这套系统专为半导体相关行业检验应用开发。FF35 CT SEMI 符合 SEMI® 的严苛标准(包括 SEMI® S2-0818 SEMI® S8-0218 危险和安全标准)并通过了相应的认证。

安赛斯多用途高分辨工业CT系统

使用FF35 CT Metrology测量超精细内部结构

Analysis FF35 CT MetrologyCT尺寸控制(例如超精细内部结构测量)的精确度提升至全新维度。一次 CT 扫描近乎捕获几乎无限的测量点,不受测量评估结果影响。无缝缺陷分析和名义值-实际值比较,节省时间并减少产品抽样校正循环相关的校正成本。FF35 CT Metrology符合VDI/VDE 2630 标准。

安赛斯多用途高分辨工业CT系统

 

FF35 CT关键技术参数:

安赛斯多用途高分辨工业CT系统


名称: 高分辨率微焦点CT系统 FF35 CT

关键词:FF35 CT,X射线检测,微焦点X光机,无损检测,射线检测


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